Forschung am Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Forschung im Überblick
Am Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente werden Forschung und Entwicklung auf unterschiedlichen Arbeitsgebieten der Mikroelektronik und Halbleitertechnologie, auch in Kooperation mit dem
Fraunhofer IISB, betrieben.
Ein breites Spektrum an Dienstleistungen steht am LEB zur Verfügung.
In diversen Forschungsinitiativen werden besondere Teilbereiche der Halbleitertechnik wissenschaftlich untersucht und Innovationen vorangetrieben.
Darüber hinaus wirken Mitarbeiter des Lehrstuhls in diversen Fachgremien der Mikroelektronik mit.
Forschungskooperationen im In- und Ausland
Der Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente ist an vielfältige Kooperationen im In- und Ausland beteiligt.
Kooperationsbeispiele
Bulgarische Akademie der Wissenschaften
- Kooperierendes Institut:
Georgi Nadjakov Institute of Solid State Physics (Frau
Assoc. Prof. PhD Albena Paskaleva, Humboldtstipendiatin)
- Gemeinsames Arbeitsgebiet: Untersuchung dünner Schichten für Mikroelektronikanwendungen, im Speziellen neuartige Schichten hoher Dielektrizitätskonstanten (high-κ)
Universität Straßburg
- Binationale Promotion (Vincent Lorentz)
- Kooperierendes Institut:
Institut d'Électronique du Solide et des Système (Univeristät Straßburg, Prof. Dr. Francis Braun)
- Thema: Bidirektionale DC-Spannungswandlung für Kleinleistungsanwendungen
Universität Osaka
- Kooperierendes Institut: Research Center for Quantum Science and Technology under Extreme Conditions
- Gastwissenschaftler: Dr. Katsuhisa Murakami
- Gemeinsames Arbeitsgebiet: Elektrische Charakterisierung von hoch-ε Dielektrika mittels leitende Atomkraftmikroskopie (nano scale electrical characterization of high-k dielectric film by conductive AFM)
Ungarische Akademie der Wissenschaften
- Kooperierendes Institut:
Forschungsinstitut für technische Physik und Materialwissenschaften (MFA, Müszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet, Prof. Dr.
István Bársony)
- Gemeinsames Arbeitsgebiet: Charakterisierung von mikro- und makroskopischer Struktur und Uniformität von Gatestapeln mittels bildgebender Ellipsometrie (Microscopic and macroscopic structure and uniformity gate stacks characterized by mapping ellipsometry)
Laboratoire d'Électronique des Technologies de l'Information (LETI) (Grenoble, Frankreich)
- Kooperierendes Institut:
Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble, G2ELab (Prof. Jean-Christophe Crébier)
- Binationale Promotion (Markus Niedermeier): Distributed Power Conversion in Smart Photovoltaic Solar Panels
Weitere Kooperationspartner sind u.a.
- Infineon Technologies (München, Villach, Erlangen)
- Degussa / Creavis Technologies & Innovation (Marl)
- Nanoworld Services (Erlangen)
- ELMOS (Dortmund)
- ZMD (Dresden)
- Texas Instruments, Freising
- Universitäten
- Osaka (Japan)
- Trient (Italien)
- Bochum
- München (UniBW)
- Zürich (ETH)
- IIT Madras (Indien)
- North Carolina State University (USA)
- Russische Akademie der Wissenschaften
- Forschungsinstitute
- Fraunhofer IISB (Erlangen)
- IMEC (Leuven, Belgien)
- CEA-LETI (Grenoble, Frankreich)
- Tyndall Research Institute (Cork, Irland)
Publikationen und studentische Arbeiten
- Dissertationen
- Publikationen (ab 1999)
- Studentische Arbeiten (Studien-, Bachelor- und Diplomarbeiten)



