Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
| Name: | Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
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| Postal address: | Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Cauerstr. 6
91058 Erlangen |
| Room: | 1.122 |
| Phone number: | 09131/85-28633 |
| Fax number: | 09131/85-28698 |
| E-mail: | lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de |
| Office hours: | weekly on tuesday 9:00 - 10:00
1.122
Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.
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Courses / Lectures
Supervised theses
2013
2012
2011
2010
2009
- Alternative Materialien und Prozesse für kostengünstige Elektronik-Anwendungen
- Analyse des Effekts der Eigenerwärmung elektronischer Bauelemente auf deren Zuverlässigkeit an Einsatzorten mit erhöhter Temperaturbelastung
- Einsatz eines GPS Datenloggers zur Aufnahme und Untersuchung von realitätsnahen Fahrzyklen mittels Matlab / Simulink
- Entwicklung einer hochpräzisen Messwerterfassungskarte für einen Lastwechselmessplatz
- Entwicklung eines integrierbaren Strommesssystems zur Anwendung in der Batterie-Systemtechnik
- Entwicklung eines luftgekühlten Leistungsteils für einen bidirektionalen 50 kW DC/DC-Wandler
- Entwicklung eines Spannungswandlers für Zyklentests an Li-Ion-Akkuzellen
- Lademanagement für ein elektrifiziertes Fahrzeug
- Lunkerentstehung und Benetzungsverhalten in bleifreien Lotsystemen für Bare-Die-Leistungsbauelemente
- Optimierung eines optischen Prüfsystems zur Schweißpunktkontrolle an Common-Rail-Injektoren
- Recherchen und Untersuchungen zu Lebensdauermodellen für Pb-Gel Akkus
- Untersuchungen zur Stromerfassung in Hoch-Tiefsetzstellern mittels Spulenwiderstand
2002
1999
1997
1996
1995
1994
1993
1992
Publications
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1999
- »AFM and STM Investigation of Carbon Nanotubes Produced High Energy Ion Irradiation of Graphite«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 147, 142 (1999)
- »An Analytical Model for Beam Induced Contamination in Ion Implantation«, 12th International Conference on Ion Implantation IIT 98, Kyoto (Japan), 498-501 (1999),
http://nishiki.kuee.kyoto-u.ac.jp/IIT98/
- »Carbon Nanotubes Produced by High Energy (E>100MeV) , Heavy Ion Irradiation of Graphite«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 148, 1102 (1999)
- »Comparisation of Beam-Induced Deposition Using Ion Microprobe«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 148, 25 (1999)
- »Forming Nitrided Gate Oxides by Nitrogen Implantation into Substrate before Gate Oxidation by RTO«, IEEE Electron Device Letters, 26 (1999)
- »Impurity Incorporation during Beam Assisted Processing Analyzed Using Nuclear Microprobe«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 158, 487 (1999)
- »Investigation of Cu Films by Focused Ion Beam Induced Deposition Using Nuclear Microprobe«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 158, 493 (1999)
- »MOCVD of Ferroelectric Thin Films«, Journal de Physique IV 9, 575-582 (1999)
- »Nano-slit probes for near-field optical microscopy fabrcated by focused ion beams«, Journal of Microscopy 194, 335-339 (1999)
- »Scanning Probe Method Investigation of Carbon Nanotubes Produced by High Enery Ion Irradiation of Graphite«, Carbon-Based Materials for Microelectronics 37, 739 (1999)
- »Simulation of a Coating Protection for an In Situ Ellipsometer in a CVD Furnace«, Proceedings 29th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC99), Leuven (Belgien), 3 (1999)
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