Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey


Name:Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
Postanschrift:Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

Cauerstr. 6
91058 Erlangen
Zimmer:1.122
Telefonnummer:09131/85-28633
Fax:09131/85-28698
E-Mail:lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de
Sprechstunde:wöchentlich dienstags 9:00 - 10:00

1.122

Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.

Lehrveranstaltungen

Betreute Arbeiten

2013

2012

2011
  • Aufbau eines Schülerexperiments zum Thema Solarzellen
  • Aufbau von Simulationsmodellen für die thermische Simulation von Reflowlötprozessen
  • Charakterisierung der elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Plasma-Dust-Cu-Schichten
  • Charakterisierung eines PECVD-Prozesses zur Herstellung von Siliciumdioxidschichten
  • Charakterisierung eines Siliziumkarbid Sperrschichtfeldeffekttransistors
  • Charakterisierung und Validierung eines 4H- SiC Bipolartransistors der Firma TranSiC
  • Entwicklung einer automatisierten Sprüheinrichtung
  • Entwicklung einer Steuer- und Regelelektronik für ein Batterieladegerät
  • Entwicklung einer Steuerung und Regelung für ein Ladegerät für Elektrofahrzeuge
  • Entwicklung eines Batterie-Management-Systems für die Lithium-Eisen-Phosphat Batteriezellen eines Hybrid-Fahrzeugs auf einer dSpace-Micro-Autobox mit Matlab/Simulink
  • Entwicklung eines Fahrzeug-Management-Systems für Elektrofahrzeuge
  • Entwicklung eines Konzeptes zur energieeffizienten Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
  • Erstellung eines Simulationsmodells der Fahrgastzelle zur Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
  • Evaluation neuartiger Sinterpasten für die Aufbau- und Verbindungstechnik in der Leistungselektronik
  • Flüssigphasenprozessierte ZnO-Halbleiterschichten aus molekularen Präkursoren
  • Gerätesimulation basierend auf einer parametrisierten RTP-Reaktorgeometrie und Validierung ausgewählter Parameter
  • Herstellung großflächiger PDMS-Stempel für die substratkonforme Imprintlithographie (SCIL)
  • Herstellung und Charakterisierung von Aluminiumoxidschichten mittels Atomlagenabscheidung bei Temperaturen kleiner 150°C
  • Implementierung eines Algorithmus zur Bestimmung des State of Charge (SOC) von Li-Ionen Batteriesystemen in automobilen Anwendungen
  • Integration von Testmessungen an Halbleiterbauelementen mit einem mobilen Messplatz in eine Lehr-/Übungseinheit
  • Kathodenzerstäubung von Gallium-Indium-Zinkoxid variabler Stöchiometrie für den Einsatz in Dünnfilmtransistoren
  • Konstruktion und thermische Untersuchung eines Energiespeichers für ein Elektrofahrzeug
  • Modellierung eines monolithisch integrierten RC-Snubbers für ein leistungselektronisches System zur Optimierung des EMV-Verhaltens
  • Modifikation eines Spreading-Resistance-Messplatzes zur Bestimmung von Widerstandskonzentrationsprofilen über die Point-Contact-Current-Voltage-Methode
  • Prozessentwicklung Hafnium-basierter Dielektrika mittels plasma-unterstützter Atomlagenabscheidung
  • Simulative Analyse konvektiver Entwärmungsvorgänge in E-Maschinen für Hybrid- und Elektroautos
  • Studie zur Monolithischen Integration von Spulen für leistungselektronische Anwendungen
  • Systemintegration einer Antriebseinheit in ein Elektrofahrzeug
  • Thermische Stabilität dielektrischer Schichten auf Germanium
  • Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in multikristallinem Silicium mittels elektrischer Messungen am AFM
  • Untersuchung einer adaptiven Regelung für mehrphasige DC/DC-wandler und Implementierung in einem FPGA
  • Untersuchung und Optimierung des Schaltverhaltens von Leistungsendstufen für Antriebsumrichter
  • Untersuchung zur Erfassung hochdynamischer Schaltvorgänge bei modernen Leistungshalbleitern
  • Untersuchungen zur Effizienz der in-situ Dotierung nasschemisch gezüchteter ZnO Nanopartikel anhnad von Feldeffekttransistoren
  • Untersuchungen zur Schaltanomalie eines Trench-IGBT
  • Vergleich unterschiedlicher Verfahren zur Bestimmung der Impedanz bzw. des Innenwiderstandes von Lithium-Ionen-Batterien zur Bestimmung des Alterungszustandes
2010

2009

2002

1999

1997

1996

1995

1994

1993

1992

Publikationen

2013

2012

2011

2010

2009

2008

2007

2006

2005

2004

2003

2002

2001

2000

1999
  • »AFM and STM Investigation of Carbon Nanotubes Produced High Energy Ion Irradiation of Graphite«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 147, 142 (1999)
  • »An Analytical Model for Beam Induced Contamination in Ion Implantation«, 12th International Conference on Ion Implantation IIT 98, Kyoto (Japan), 498-501 (1999),
    externer Link: OPUShttp://nishiki.kuee.kyoto-u.ac.jp/IIT98/
  • »Carbon Nanotubes Produced by High Energy (E>100MeV) , Heavy Ion Irradiation of Graphite«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 148, 1102 (1999)
  • »Comparisation of Beam-Induced Deposition Using Ion Microprobe«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 148, 25 (1999)
  • »Forming Nitrided Gate Oxides by Nitrogen Implantation into Substrate before Gate Oxidation by RTO«, IEEE Electron Device Letters, 26 (1999)
  • »Impurity Incorporation during Beam Assisted Processing Analyzed Using Nuclear Microprobe«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 158, 487 (1999)
  • »Investigation of Cu Films by Focused Ion Beam Induced Deposition Using Nuclear Microprobe«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 158, 493 (1999)
  • »MOCVD of Ferroelectric Thin Films«, Journal de Physique IV 9, 575-582 (1999)
  • »Nano-slit probes for near-field optical microscopy fabrcated by focused ion beams«, Journal of Microscopy 194, 335-339 (1999)
  • »Scanning Probe Method Investigation of Carbon Nanotubes Produced by High Enery Ion Irradiation of Graphite«, Carbon-Based Materials for Microelectronics 37, 739 (1999)
  • »Simulation of a Coating Protection for an In Situ Ellipsometer in a CVD Furnace«, Proceedings 29th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC99), Leuven (Belgien), 3 (1999)

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