Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey


Name:Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
Postanschrift:Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

Cauerstr. 6
91058 Erlangen
Zimmer:1.122
Telefonnummer:09131/85-28633
Fax:09131/85-28698
E-Mail:lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de
Sprechstunde:wöchentlich dienstags 9:00 - 10:00

1.122

Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.

Lehrveranstaltungen

Betreute Arbeiten

2013

2012
  • Analyse des Oxidationsverhaltens einer Keramik und deren Benetzbarkeit durch Silizium
  • Überwachung von Li-Ionen Akkumulatoren mittels Gassensoren
  • Aufbau und Inbetriebnahme eines Leistungsteils zur Untersuchung der Leistungsskalierbarkeit und des Betriebsverhaltens von Antriebsumrichtern mit verteiltem Zwischenkreiskondensator
  • Aufbau, Inbetriebnahme und Automatisierung eines Messplatzes zur Aufnahme von Impedanzspektroskopie-Kennlinien
  • Bestandsaufnahme und Evaluierung von Einsparungspotentialen am Beispiel eines Institutsgebäudes
  • Can controller implementation on FPGA
  • Dynamisches Abschaltverhalten von schnell schaltenden 600V pin-Dioden
  • Einfluss von Cäsium auf das Metall-Oxid-Halbleiter-System auf 4H-Siliciumcarbid
  • Einfluss von Phosphor- und Stickstoff auf das Metall-Oxid-Halbleiter-System auf 4H-Siliciumcarbid
  • Entwicklung einer schnellen Strommesswerterfassung und modellgestützter Signalaufbereitung in einem FPGA
  • Entwicklung eines Algorithmus für einen Testaufbau zur Fehlererkennung
  • Entwicklung eines DC/DC-Wandlers für ein Brennstoffzellensystem
  • Entwicklung eines effizienten Präprozessors zur Definition der Streckenvorgabe für Verbrauchs- und Fahrdynamiksimulationen
  • Entwicklung eines EMV- Filters zur Anbindung von elektrisch betriebenen Fahrzeugen an das Niederspannungs-Versorgungsnetz
  • Entwicklung eines Fahrzeug-Management-Systems für ein bateriebetriebenes Elektrofahrzeug
  • Entwicklung eines induktiv aufladbaren Retrofit Akkusystems für konventionelle Hörgeräte
  • Entwicklung eines Multi-Kanal-Protokolls für die Integration eines Android Systems in ein Elektrofahrzeug
  • Entwicklung und Aufbau einer Leistungsendstufe für einen bidirektionalen Traktions DC/DC Wandler
  • Entwicklung und Aufbau einer Leistungsendstufe mit direkt gekühlten Leistungsschaltern für einen Traktions-Wandler
  • Entwicklung und Inbetriebnahme eines Batterieüberwachungssystems
  • Entwurf und Entwicklung der Betriebssoftware einer Messplatine für verschiedene Mess- und Regelaufgaben im Hybrid-Fahrzeug
  • Entwurf und Implementierung einer Betriebssoftware für TriCore-basierte Steuergeräte im Antriebsstrang
  • Erstellung eines Simulationsmodells für Gleichspannungswandler
  • Evaluierung von Niedertemperatur-Oberflächenpassivierungsverfahren für die Messung von Ladungsträgerlebensdauern von Silicium für die Photovoltaik
  • Experimentelle Untersuchung des Einflusses unterschiedlicher Kristallorientierung und Dotierstoffkonzentrationen dünner Silicium-Scheiben auf das thermische Laserstrahl-Separieren
  • Großflächige Herstellung von Strukturen zur denierten Einkopplung und Auskopplung elektromagnetischer Strahlung
  • Herstellung und Untersuchung einer Tiegelbeschichtung für die gerichtete Erstarrung von Silizium
  • Konzeptionierung und Konstruktion eines Moduls mit Lithium-Ionen Zellen
  • Lasersintern nanopartikulärer ZnO Schichten für den Einsatz als aktive Schicht in Dünnfilmtransistoren
  • Modellierung von Interferenz- und Talbot-Lithographie
  • Modellierung, Simulation und Optimierung des Chemikalienflusses eines Anlagenprototypens zum nasschemischen Ätzen von Kupfer
  • Niedertemperaturkontkat auf n-dotiertem 4H-SiC
  • Signal conditioning electronics for distributed battery monitoring in electric and hybrid vehicles
  • Simulation gekoppelter Gleichspannungsnetze
  • Simulation und Regelung von Drehfeldmaschinen mit sinus- und blockförmiger Bestromung
  • Strukturelle und elektrische Charakterisierung von multikristallinen String Ribbon Silizium für die Photovoltaik
  • Surface Reconstruction from Makyoh Data for the Determination of Nanotopography on Semiconductor Wafers
  • Tiefenaufgelöste Messung von Ausbreitungswiderständen in p-dot. Galliumnitrid zur Kontrolle von Aktivierungsprozessen
  • Topologieuntersuchungen zur energieeffizienten Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
  • Untersuchung der Einsatzgrenzen von SiC-Leistungsbauelementen im hartschaltenden Betrieb
  • Untersuchung der Kontaktbildung auf n- bzw. p-dotiertem 4H-SiC
  • Untersuchung und Aufbau von POL (Point Of Load) DC/DC-Wandlern zum Einsatz in der Konsumelektronik.
  • Untersuchung und Optimierung von Prozessen zur Herstellung von Siliciumdioxidschichten an einer Mikrowellen-Plasmaoxidationsanlage
  • Untersuchung von Maßnahmen zur Rissstabilisierung bei Anwendung des Thermischen Laser-Separierens für die Trennung kristalliner Silicium-Scheiben
  • Untersuchungen zu einer störsicheren Schnittstelle für Ansteuerschaltungen
  • Untersuchungen zu gedruckten Temperatursensoren
2011

2010

2009

2002

1999

1997

1996

1995

1994

1993

1992

Publikationen

2013

2012

2011

2010

2009

2008

2007

2006

2005

2004

2003

2002

2001

2000
  • »"Monte Carlo Simulation and Modeling of Ion Implantation Induced Contamination Profiles«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, - (2000)
  • »Aspects of Barium Contamination in High Dielectric Dynamic Random Access Memories«, J. Electrochem. Soc 147, 4297 (2000)
  • »Contamination Control for Ion Implantation«, IIT School, Edgewater, 564-601 (2000)
  • »Contamination Control for Ion Implantation«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Defects and Gallium-Contamination During Focused Ion Beam Micro Machining«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Electrical Reliability Aspects of Through the Gate Implanted MOS-Structures with Thin Oxides«, 11th Workshop on Dielectrics in Microelectronics (WoDiM), München (2000)
  • »Enhanced Depth-Resolution Analysis with Medium Energy Ion scattering (MEIS) for Shallow Junction Profiling«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Field emitter array fabricated using focused ion and electron beam induced reaction«, Journal of Vacuum Science and Technology B 2, 976-979 (2000)
  • »Gate Oxide Damage Due to Through the Gate Implantation in MOS-Structures with Ultrathin and Standard Oxides«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, 103-106 (2000)
  • »Investigation of Molybdenum Contamination in 11B+ and 31P+ Implants«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Monte Carlo Simulation and Modeling of Ion Implantation Induced Contamination Profiles«, Ion Implantation Technology 2000, Alpbach (2000)
  • »Safety Considerations for Ion Implanters«, IIT School, Edgewater (2000)
  • »Safety Considerations for Ion Implanters«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Wafer Conserving Full Range Construction Analysis for IC Fabrication and Process Development based on FIB / Dual Beam Inline Application«, International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2000), Seattle, USA (2000)
1999

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