Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
| Name: | Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
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| Postanschrift: | Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Cauerstr. 6
91058 Erlangen |
| Zimmer: | 1.122 |
| Telefonnummer: | 09131/85-28633 |
| Fax: | 09131/85-28698 |
| E-Mail: | lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de |
| Sprechstunde: | wöchentlich dienstags 9:00 - 10:00
1.122
Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.
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Lehrveranstaltungen
Betreute Arbeiten
2013
2012
2011
2010
2009
- Alternative Materialien und Prozesse für kostengünstige Elektronik-Anwendungen
- Analyse des Effekts der Eigenerwärmung elektronischer Bauelemente auf deren Zuverlässigkeit an Einsatzorten mit erhöhter Temperaturbelastung
- Einsatz eines GPS Datenloggers zur Aufnahme und Untersuchung von realitätsnahen Fahrzyklen mittels Matlab / Simulink
- Entwicklung einer hochpräzisen Messwerterfassungskarte für einen Lastwechselmessplatz
- Entwicklung eines integrierbaren Strommesssystems zur Anwendung in der Batterie-Systemtechnik
- Entwicklung eines luftgekühlten Leistungsteils für einen bidirektionalen 50 kW DC/DC-Wandler
- Entwicklung eines Spannungswandlers für Zyklentests an Li-Ion-Akkuzellen
- Lademanagement für ein elektrifiziertes Fahrzeug
- Lunkerentstehung und Benetzungsverhalten in bleifreien Lotsystemen für Bare-Die-Leistungsbauelemente
- Optimierung eines optischen Prüfsystems zur Schweißpunktkontrolle an Common-Rail-Injektoren
- Recherchen und Untersuchungen zu Lebensdauermodellen für Pb-Gel Akkus
- Untersuchungen zur Stromerfassung in Hoch-Tiefsetzstellern mittels Spulenwiderstand
2002
1999
1997
1996
1995
1994
1993
1992
Publikationen
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
- »Barium, Strontium and Bismuth Contamination in CMOS Processes«, Solid State Phenomena, 9-14 (2001)
- »Chemische Dampfphasenabscheidung von Materialien mit hoher Dielektrizitätskonstanten am Beispiel Barium-Strontium-Titanat«, Vortrag auf der Konferenz Materials Week 2001, München (2001)
- »Electrical reliability aspects of through the gate implanted MOS structures with thin oxides«, Microelectronics Reliability 41, 987-990 (2001)
- »Experimental and Numerical Study of the CVD of TiO2 using New Titanium Precursors«, Fundamental Gas-Phase and Surface Chemistry of Vapor Deposition II, Washington DC, 160 ff (2001)
- »Fabrication of silicon aperture probes for scanning near-field optical microscopy by focused ion beam nano machining«, Microelectronic Engineering 57-58, 721-728 (2001)
- »High-resolution Constant-height Imaging with Apertured Silicon Cantilever Probes«, Journal of Microscopy, 22ff (2001)
- »Impact of Platinum Contamination on Ferroelectric Memories«, Integrated Ferroelectrics (Proceedings of the 13th International Symposium on Integrated Ferroelectrics ISIF 2001 - Colorado Springs, CO, USA) 37, 75-82 (2001)
- »In-line Failure Analysis on Pruductive Wafers with Dual Beam SEM/FIB«, 4406, 21-30 (2001)
- »Limitations of focused ion beam nanomachining«, Journal of Vacuum Science and Technology 19, 2533-2538 (2001)
- »MOCVD of Titanium Dioxide on the Basis of New Precursors«, ERMSVortrag EMRS 2001, Strasbourg (Frankreich) (2001)
- »Proceedings of the 12th International Conference on Ion Implantation Technology«, IIT 2000, Alpbach, Österreich (2001)
- »Tungsten, Nickel, and Molybdenum Schottky Diodes with Different Edge Termination«, Applied Surface Science 7274, - (2001)
- »Tungsten, Nickel, and Molybdenum Schottky Diodes with Different Edge Termination«, E-MRS 2001 Spring Meeting, Strasbourg (Frankreich) (2001)
2000
1999
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