Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
| Name: | Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
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| Postanschrift: | Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Cauerstr. 6
91058 Erlangen |
| Zimmer: | 1.122 |
| Telefonnummer: | 09131/85-28633 |
| Fax: | 09131/85-28698 |
| E-Mail: | lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de |
| Sprechstunde: | wöchentlich dienstags 9:00 - 10:00
1.122
Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.
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Lehrveranstaltungen
Betreute Arbeiten
2013
2012
2011
- Aufbau eines Schülerexperiments zum Thema Solarzellen
- Aufbau von Simulationsmodellen für die thermische Simulation von Reflowlötprozessen
- Charakterisierung der elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Plasma-Dust-Cu-Schichten
- Charakterisierung eines PECVD-Prozesses zur Herstellung von Siliciumdioxidschichten
- Charakterisierung eines Siliziumkarbid Sperrschichtfeldeffekttransistors
- Charakterisierung und Validierung eines 4H- SiC Bipolartransistors der Firma TranSiC
- Entwicklung einer automatisierten Sprüheinrichtung
- Entwicklung einer Steuer- und Regelelektronik für ein Batterieladegerät
- Entwicklung einer Steuerung und Regelung für ein Ladegerät für Elektrofahrzeuge
- Entwicklung eines Batterie-Management-Systems für die Lithium-Eisen-Phosphat Batteriezellen eines Hybrid-Fahrzeugs auf einer dSpace-Micro-Autobox mit Matlab/Simulink
- Entwicklung eines Fahrzeug-Management-Systems für Elektrofahrzeuge
- Entwicklung eines Konzeptes zur energieeffizienten Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
- Erstellung eines Simulationsmodells der Fahrgastzelle zur Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
- Evaluation neuartiger Sinterpasten für die Aufbau- und Verbindungstechnik in der Leistungselektronik
- Flüssigphasenprozessierte ZnO-Halbleiterschichten aus molekularen Präkursoren
- Gerätesimulation basierend auf einer parametrisierten RTP-Reaktorgeometrie und Validierung ausgewählter Parameter
- Herstellung großflächiger PDMS-Stempel für die substratkonforme Imprintlithographie (SCIL)
- Herstellung und Charakterisierung von Aluminiumoxidschichten mittels Atomlagenabscheidung bei Temperaturen kleiner 150°C
- Implementierung eines Algorithmus zur Bestimmung des State of Charge (SOC) von Li-Ionen Batteriesystemen in automobilen Anwendungen
- Integration von Testmessungen an Halbleiterbauelementen mit einem mobilen Messplatz in eine Lehr-/Übungseinheit
- Kathodenzerstäubung von Gallium-Indium-Zinkoxid variabler Stöchiometrie für den Einsatz in Dünnfilmtransistoren
- Konstruktion und thermische Untersuchung eines Energiespeichers für ein Elektrofahrzeug
- Modellierung eines monolithisch integrierten RC-Snubbers für ein leistungselektronisches System zur Optimierung des EMV-Verhaltens
- Modifikation eines Spreading-Resistance-Messplatzes zur Bestimmung von Widerstandskonzentrationsprofilen über die Point-Contact-Current-Voltage-Methode
- Prozessentwicklung Hafnium-basierter Dielektrika mittels plasma-unterstützter Atomlagenabscheidung
- Simulative Analyse konvektiver Entwärmungsvorgänge in E-Maschinen für Hybrid- und Elektroautos
- Studie zur Monolithischen Integration von Spulen für leistungselektronische Anwendungen
- Systemintegration einer Antriebseinheit in ein Elektrofahrzeug
- Thermische Stabilität dielektrischer Schichten auf Germanium
- Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in multikristallinem Silicium mittels elektrischer Messungen am AFM
- Untersuchung einer adaptiven Regelung für mehrphasige DC/DC-wandler und Implementierung in einem FPGA
- Untersuchung und Optimierung des Schaltverhaltens von Leistungsendstufen für Antriebsumrichter
- Untersuchung zur Erfassung hochdynamischer Schaltvorgänge bei modernen Leistungshalbleitern
- Untersuchungen zur Effizienz der in-situ Dotierung nasschemisch gezüchteter ZnO Nanopartikel anhnad von Feldeffekttransistoren
- Untersuchungen zur Schaltanomalie eines Trench-IGBT
- Vergleich unterschiedlicher Verfahren zur Bestimmung der Impedanz bzw. des Innenwiderstandes von Lithium-Ionen-Batterien zur Bestimmung des Alterungszustandes
2010
2009
2002
1999
1997
1996
1995
1994
1993
1992
Publikationen
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
- »Auf dem Weg zur Siliciumcarbid-Elektronik«, Universität ErlangenTage der Technischen Fakultät 2002, Erlangen (2002)
- »Development of Enhanced Depth-resolution Technique for Shallow Dopant Profiles«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 1-4, 26 (2002)
- »Effect of Barium Contamination on Gate Oxide Integrity in High-k DRAM«, Journal of Non-Crystalline Solids 303, 12 (2002)
- »Influence of Photoresist Pattern on Charging Damage During High Current Ion Implantation«, 7th Int. Symp. On Plasma & Process Induced Damage, Maui, Hawaii, USA, 106-109 (2002)
- »MOCVD of titanium dioxid on the basis of new precursors«, Journal of non-crystalline solids 303, 64-68 (2002)
- »Platinum Contamination Issues in Ferroelectric Memories«, J. Appl. Phys. 92, 3257 (2002)
- »Verkohltes Silicium - Neues Halbleitermaterial für die Leistungselektronik«, Design-Elektronik, 40 (2002)
2001
2000
1999
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