Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
| Name: | Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
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| Postal address: | Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Cauerstr. 6
91058 Erlangen |
| Room: | 1.122 |
| Phone number: | 09131/85-28633 |
| Fax number: | 09131/85-28698 |
| E-mail: | lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de |
| Office hours: | weekly on tuesday 9:00 - 10:00
1.122
Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.
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Courses / Lectures
Supervised theses
2013
2012
2011
2010
2009
- Alternative Materialien und Prozesse für kostengünstige Elektronik-Anwendungen
- Analyse des Effekts der Eigenerwärmung elektronischer Bauelemente auf deren Zuverlässigkeit an Einsatzorten mit erhöhter Temperaturbelastung
- Einsatz eines GPS Datenloggers zur Aufnahme und Untersuchung von realitätsnahen Fahrzyklen mittels Matlab / Simulink
- Entwicklung einer hochpräzisen Messwerterfassungskarte für einen Lastwechselmessplatz
- Entwicklung eines integrierbaren Strommesssystems zur Anwendung in der Batterie-Systemtechnik
- Entwicklung eines luftgekühlten Leistungsteils für einen bidirektionalen 50 kW DC/DC-Wandler
- Entwicklung eines Spannungswandlers für Zyklentests an Li-Ion-Akkuzellen
- Lademanagement für ein elektrifiziertes Fahrzeug
- Lunkerentstehung und Benetzungsverhalten in bleifreien Lotsystemen für Bare-Die-Leistungsbauelemente
- Optimierung eines optischen Prüfsystems zur Schweißpunktkontrolle an Common-Rail-Injektoren
- Recherchen und Untersuchungen zu Lebensdauermodellen für Pb-Gel Akkus
- Untersuchungen zur Stromerfassung in Hoch-Tiefsetzstellern mittels Spulenwiderstand
2002
1999
1997
1996
1995
1994
1993
1992
Publications
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
- »Auf dem Weg zur Siliciumcarbid-Elektronik«, Universität ErlangenTage der Technischen Fakultät 2002, Erlangen (2002)
- »Development of Enhanced Depth-resolution Technique for Shallow Dopant Profiles«, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research 1-4, 26 (2002)
- »Effect of Barium Contamination on Gate Oxide Integrity in High-k DRAM«, Journal of Non-Crystalline Solids 303, 12 (2002)
- »Influence of Photoresist Pattern on Charging Damage During High Current Ion Implantation«, 7th Int. Symp. On Plasma & Process Induced Damage, Maui, Hawaii, USA, 106-109 (2002)
- »MOCVD of titanium dioxid on the basis of new precursors«, Journal of non-crystalline solids 303, 64-68 (2002)
- »Platinum Contamination Issues in Ferroelectric Memories«, J. Appl. Phys. 92, 3257 (2002)
- »Verkohltes Silicium - Neues Halbleitermaterial für die Leistungselektronik«, Design-Elektronik, 40 (2002)
2001
2000
1999
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