Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey


Name:Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
Postanschrift:Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

Cauerstr. 6
91058 Erlangen
Zimmer:1.122
Telefonnummer:09131/85-28633
Fax:09131/85-28698
E-Mail:lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de
Sprechstunde:wöchentlich dienstags 9:00 - 10:00

1.122

Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.

Lehrveranstaltungen

Betreute Arbeiten

2013

2012

2011

2010
  • Automatisches und integriertes Testen von elektronischen Bauelementen
  • Charakterisierung von Silizium-Nanopartikeln und Entwicklung von chemischen Prozessen zur Bildung von dreidimensionalen Schichten und Strukturen
  • Energieverbrauchsanalyse an einem Büro- und Laborgebäude im Rahmen der Optimierung des Qualitäts- und Umweltmanagementsystems einer wissenschaftlichen Einrichtung
  • Entwicklung einer Ansteuerung und Stromregeleung für einen 2 kW Resonanzwandler
  • Entwicklung einer Festphasenmikroextraktionsmethode zur Bestimmung organischer Verbindungen in stark alkalischen und stark sauren, flüssigen Medien
  • Entwicklung einer neuartigen Messmethode zur Bestimmung der oberflächennahen Dotierungskonzentration
  • Entwicklung einer Reglerfunktion für Hoch-Tiefsetzsteller
  • Entwicklung einer Schaltung zur Ansteuerung und Laststromregelung von Hoch-Tiefsetzstellern
  • Entwicklung einer Schaltung zur Ladezustandsbestimmung und Überwachung von LiIo-Akkus
  • Entwicklung eines bidirektionalen Gleichspannungswandlers für Nutzfahrzeuge
  • Entwicklung eines bidirektionalen isolierenden 2 kW DC/DC Wandlers zur induktiven Energieübertragung für Elektrofahrzeuge
  • Entwicklung eines isolierenden resonanten DC/DC-Wandlers für Gatetreiber-Anwendungen in elektrischen Antriebssträngen
  • Entwicklung eines Simulationsmodells für die thermische Untersuchung einer elektrischen Antriebseinheit für Elektro- und Hybridfahrzeuge
  • Entwicklung eines Steuergeräts zur Ansteuerung eines elektrischen Fliehkraftladers für einen Formular-Student Rennwagen
  • Entwicklung modularer Simulationsmodelle mit C-Code Generierung zur Regelung von Asynchronmaschinen
  • Entwicklung und Charakterisierung von Ansteuerungskonzepten für OLED-Beleuchtungsmodule
  • Entwicklung und Herstellung eines durch Deformation des Kristallgitters veränderbaren Halbleiterwiderstands mittels eines piezoelektrischen Aktors
  • Entwicklung und Realisierung einer Hybridfahrzeugsteuerung auf einer dSpace Autobox mit Matlab/Simulink
  • Entwicklung und Validierung eines Batteriemodells für LiFePO4-Zellen in Matlab-Simulink
  • Evaluierung von Prozessen für die Imprint-Lithographie mit funktionalen Materialien
  • Heißprägen von thermisch leitfähigen Thermoplasten für MID-Anwendungen
  • Herstellung von strukturierten Halbleiterschichten durch Tintenstrahldruckverfahren
  • Hochtemperatur-Lotverbindungen für Leistungshalbleiterbauelemente
  • Inbetriebnahme der dSPACE-MicroAutoBox und Entwicklung einer Auswerteschaltung zur Überwachung der einzelnen Zellpotenziale
  • Inverse Sicherungsbauelemente auf Basis bistabiler Schalter
  • Konzept und Simulation für mehrgängiges Getriebe im E-Antrieb
  • Konzeption und Fertigung eines universellen, autarken und mobilen Solarladegerätes für mobile Kleinverbraucher
  • Mechanische Spannungen in dünnen gesputterten Schichten aufgrund von Temperaturbelastung
  • Modellierung und Simulation eines hybriden Traktionsenergiespeichers für den automobilen Einsatz
  • Optimierung von Polarisationsfiltern in der Lithographie
  • Realisierung eines CAN-Bootloaders mit graphischer Benutzeroberfläche (GUI) zur Programmierung von Atmel Controllern in einem modular aufgebauten Batterie-Management-System
  • Rechnerunterstützte Auswertung von Diodenkennlinien
  • Untersuchung und Umsetzung von Regelstrategien zur primärseitigen Reihen- und sekundärseitigen Parallelschaltung von isolierenden Gleichspannungswandlern
  • Untersuchung von Ausheilvorgängen in Germanium
2009

2002

1999

1997

1996

1995

1994

1993

1992

Publikationen

2013

2012

2011

2010

2009

2008

2007

2006

2005

2004

2003

2002

2001

2000
  • »"Monte Carlo Simulation and Modeling of Ion Implantation Induced Contamination Profiles«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, - (2000)
  • »Aspects of Barium Contamination in High Dielectric Dynamic Random Access Memories«, J. Electrochem. Soc 147, 4297 (2000)
  • »Contamination Control for Ion Implantation«, IIT School, Edgewater, 564-601 (2000)
  • »Contamination Control for Ion Implantation«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Defects and Gallium-Contamination During Focused Ion Beam Micro Machining«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Electrical Reliability Aspects of Through the Gate Implanted MOS-Structures with Thin Oxides«, 11th Workshop on Dielectrics in Microelectronics (WoDiM), München (2000)
  • »Enhanced Depth-Resolution Analysis with Medium Energy Ion scattering (MEIS) for Shallow Junction Profiling«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Field emitter array fabricated using focused ion and electron beam induced reaction«, Journal of Vacuum Science and Technology B 2, 976-979 (2000)
  • »Gate Oxide Damage Due to Through the Gate Implantation in MOS-Structures with Ultrathin and Standard Oxides«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, 103-106 (2000)
  • »Investigation of Molybdenum Contamination in 11B+ and 31P+ Implants«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Monte Carlo Simulation and Modeling of Ion Implantation Induced Contamination Profiles«, Ion Implantation Technology 2000, Alpbach (2000)
  • »Safety Considerations for Ion Implanters«, IIT School, Edgewater (2000)
  • »Safety Considerations for Ion Implanters«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
  • »Wafer Conserving Full Range Construction Analysis for IC Fabrication and Process Development based on FIB / Dual Beam Inline Application«, International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2000), Seattle, USA (2000)
1999

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