Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
| Name: | Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
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| Postanschrift: | Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Cauerstr. 6
91058 Erlangen |
| Zimmer: | 1.122 |
| Telefonnummer: | 09131/85-28633 |
| Fax: | 09131/85-28698 |
| E-Mail: | lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de |
| Sprechstunde: | wöchentlich dienstags 9:00 - 10:00
1.122
Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.
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Lehrveranstaltungen
Betreute Arbeiten
2013
2012
2011
- Aufbau eines Schülerexperiments zum Thema Solarzellen
- Aufbau von Simulationsmodellen für die thermische Simulation von Reflowlötprozessen
- Charakterisierung der elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Plasma-Dust-Cu-Schichten
- Charakterisierung eines PECVD-Prozesses zur Herstellung von Siliciumdioxidschichten
- Charakterisierung eines Siliziumkarbid Sperrschichtfeldeffekttransistors
- Charakterisierung und Validierung eines 4H- SiC Bipolartransistors der Firma TranSiC
- Entwicklung einer automatisierten Sprüheinrichtung
- Entwicklung einer Steuer- und Regelelektronik für ein Batterieladegerät
- Entwicklung einer Steuerung und Regelung für ein Ladegerät für Elektrofahrzeuge
- Entwicklung eines Batterie-Management-Systems für die Lithium-Eisen-Phosphat Batteriezellen eines Hybrid-Fahrzeugs auf einer dSpace-Micro-Autobox mit Matlab/Simulink
- Entwicklung eines Fahrzeug-Management-Systems für Elektrofahrzeuge
- Entwicklung eines Konzeptes zur energieeffizienten Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
- Erstellung eines Simulationsmodells der Fahrgastzelle zur Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
- Evaluation neuartiger Sinterpasten für die Aufbau- und Verbindungstechnik in der Leistungselektronik
- Flüssigphasenprozessierte ZnO-Halbleiterschichten aus molekularen Präkursoren
- Gerätesimulation basierend auf einer parametrisierten RTP-Reaktorgeometrie und Validierung ausgewählter Parameter
- Herstellung großflächiger PDMS-Stempel für die substratkonforme Imprintlithographie (SCIL)
- Herstellung und Charakterisierung von Aluminiumoxidschichten mittels Atomlagenabscheidung bei Temperaturen kleiner 150°C
- Implementierung eines Algorithmus zur Bestimmung des State of Charge (SOC) von Li-Ionen Batteriesystemen in automobilen Anwendungen
- Integration von Testmessungen an Halbleiterbauelementen mit einem mobilen Messplatz in eine Lehr-/Übungseinheit
- Kathodenzerstäubung von Gallium-Indium-Zinkoxid variabler Stöchiometrie für den Einsatz in Dünnfilmtransistoren
- Konstruktion und thermische Untersuchung eines Energiespeichers für ein Elektrofahrzeug
- Modellierung eines monolithisch integrierten RC-Snubbers für ein leistungselektronisches System zur Optimierung des EMV-Verhaltens
- Modifikation eines Spreading-Resistance-Messplatzes zur Bestimmung von Widerstandskonzentrationsprofilen über die Point-Contact-Current-Voltage-Methode
- Prozessentwicklung Hafnium-basierter Dielektrika mittels plasma-unterstützter Atomlagenabscheidung
- Simulative Analyse konvektiver Entwärmungsvorgänge in E-Maschinen für Hybrid- und Elektroautos
- Studie zur Monolithischen Integration von Spulen für leistungselektronische Anwendungen
- Systemintegration einer Antriebseinheit in ein Elektrofahrzeug
- Thermische Stabilität dielektrischer Schichten auf Germanium
- Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in multikristallinem Silicium mittels elektrischer Messungen am AFM
- Untersuchung einer adaptiven Regelung für mehrphasige DC/DC-wandler und Implementierung in einem FPGA
- Untersuchung und Optimierung des Schaltverhaltens von Leistungsendstufen für Antriebsumrichter
- Untersuchung zur Erfassung hochdynamischer Schaltvorgänge bei modernen Leistungshalbleitern
- Untersuchungen zur Effizienz der in-situ Dotierung nasschemisch gezüchteter ZnO Nanopartikel anhnad von Feldeffekttransistoren
- Untersuchungen zur Schaltanomalie eines Trench-IGBT
- Vergleich unterschiedlicher Verfahren zur Bestimmung der Impedanz bzw. des Innenwiderstandes von Lithium-Ionen-Batterien zur Bestimmung des Alterungszustandes
2010
2009
2002
1999
1997
1996
1995
1994
1993
1992
Publikationen
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
- »"Monte Carlo Simulation and Modeling of Ion Implantation Induced Contamination Profiles«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, - (2000)
- »Aspects of Barium Contamination in High Dielectric Dynamic Random Access Memories«, J. Electrochem. Soc 147, 4297 (2000)
- »Contamination Control for Ion Implantation«, IIT School, Edgewater, 564-601 (2000)
- »Contamination Control for Ion Implantation«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
- »Defects and Gallium-Contamination During Focused Ion Beam Micro Machining«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
- »Electrical Reliability Aspects of Through the Gate Implanted MOS-Structures with Thin Oxides«, 11th Workshop on Dielectrics in Microelectronics (WoDiM), München (2000)
- »Enhanced Depth-Resolution Analysis with Medium Energy Ion scattering (MEIS) for Shallow Junction Profiling«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
- »Field emitter array fabricated using focused ion and electron beam induced reaction«, Journal of Vacuum Science and Technology B 2, 976-979 (2000)
- »Gate Oxide Damage Due to Through the Gate Implantation in MOS-Structures with Ultrathin and Standard Oxides«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, 103-106 (2000)
- »Investigation of Molybdenum Contamination in 11B+ and 31P+ Implants«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
- »Monte Carlo Simulation and Modeling of Ion Implantation Induced Contamination Profiles«, Ion Implantation Technology 2000, Alpbach (2000)
- »Safety Considerations for Ion Implanters«, IIT School, Edgewater (2000)
- »Safety Considerations for Ion Implanters«, XIIIth International Conference on Ion Implantation Technology (IIT 2000), Alpbach, Österreich (2000)
- »Wafer Conserving Full Range Construction Analysis for IC Fabrication and Process Development based on FIB / Dual Beam Inline Application«, International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA 2000), Seattle, USA (2000)
1999
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