Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
| Name: | Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
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| Postanschrift: | Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Cauerstr. 6
91058 Erlangen |
| Zimmer: | 1.122 |
| Telefonnummer: | 09131/85-28633 |
| Fax: | 09131/85-28698 |
| E-Mail: | lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de |
| Sprechstunde: | wöchentlich dienstags 9:00 - 10:00
1.122
Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.
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Lehrveranstaltungen
Betreute Arbeiten
2013
2012
2011
- Aufbau eines Schülerexperiments zum Thema Solarzellen
- Aufbau von Simulationsmodellen für die thermische Simulation von Reflowlötprozessen
- Charakterisierung der elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Plasma-Dust-Cu-Schichten
- Charakterisierung eines PECVD-Prozesses zur Herstellung von Siliciumdioxidschichten
- Charakterisierung eines Siliziumkarbid Sperrschichtfeldeffekttransistors
- Charakterisierung und Validierung eines 4H- SiC Bipolartransistors der Firma TranSiC
- Entwicklung einer automatisierten Sprüheinrichtung
- Entwicklung einer Steuer- und Regelelektronik für ein Batterieladegerät
- Entwicklung einer Steuerung und Regelung für ein Ladegerät für Elektrofahrzeuge
- Entwicklung eines Batterie-Management-Systems für die Lithium-Eisen-Phosphat Batteriezellen eines Hybrid-Fahrzeugs auf einer dSpace-Micro-Autobox mit Matlab/Simulink
- Entwicklung eines Fahrzeug-Management-Systems für Elektrofahrzeuge
- Entwicklung eines Konzeptes zur energieeffizienten Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
- Erstellung eines Simulationsmodells der Fahrgastzelle zur Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
- Evaluation neuartiger Sinterpasten für die Aufbau- und Verbindungstechnik in der Leistungselektronik
- Flüssigphasenprozessierte ZnO-Halbleiterschichten aus molekularen Präkursoren
- Gerätesimulation basierend auf einer parametrisierten RTP-Reaktorgeometrie und Validierung ausgewählter Parameter
- Herstellung großflächiger PDMS-Stempel für die substratkonforme Imprintlithographie (SCIL)
- Herstellung und Charakterisierung von Aluminiumoxidschichten mittels Atomlagenabscheidung bei Temperaturen kleiner 150°C
- Implementierung eines Algorithmus zur Bestimmung des State of Charge (SOC) von Li-Ionen Batteriesystemen in automobilen Anwendungen
- Integration von Testmessungen an Halbleiterbauelementen mit einem mobilen Messplatz in eine Lehr-/Übungseinheit
- Kathodenzerstäubung von Gallium-Indium-Zinkoxid variabler Stöchiometrie für den Einsatz in Dünnfilmtransistoren
- Konstruktion und thermische Untersuchung eines Energiespeichers für ein Elektrofahrzeug
- Modellierung eines monolithisch integrierten RC-Snubbers für ein leistungselektronisches System zur Optimierung des EMV-Verhaltens
- Modifikation eines Spreading-Resistance-Messplatzes zur Bestimmung von Widerstandskonzentrationsprofilen über die Point-Contact-Current-Voltage-Methode
- Prozessentwicklung Hafnium-basierter Dielektrika mittels plasma-unterstützter Atomlagenabscheidung
- Simulative Analyse konvektiver Entwärmungsvorgänge in E-Maschinen für Hybrid- und Elektroautos
- Studie zur Monolithischen Integration von Spulen für leistungselektronische Anwendungen
- Systemintegration einer Antriebseinheit in ein Elektrofahrzeug
- Thermische Stabilität dielektrischer Schichten auf Germanium
- Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in multikristallinem Silicium mittels elektrischer Messungen am AFM
- Untersuchung einer adaptiven Regelung für mehrphasige DC/DC-wandler und Implementierung in einem FPGA
- Untersuchung und Optimierung des Schaltverhaltens von Leistungsendstufen für Antriebsumrichter
- Untersuchung zur Erfassung hochdynamischer Schaltvorgänge bei modernen Leistungshalbleitern
- Untersuchungen zur Effizienz der in-situ Dotierung nasschemisch gezüchteter ZnO Nanopartikel anhnad von Feldeffekttransistoren
- Untersuchungen zur Schaltanomalie eines Trench-IGBT
- Vergleich unterschiedlicher Verfahren zur Bestimmung der Impedanz bzw. des Innenwiderstandes von Lithium-Ionen-Batterien zur Bestimmung des Alterungszustandes
2010
2009
2002
1999
1997
1996
1995
1994
1993
1992
Publikationen
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
- »Barium, Strontium and Bismuth Contamination in CMOS Processes«, Solid State Phenomena, 9-14 (2001)
- »Chemische Dampfphasenabscheidung von Materialien mit hoher Dielektrizitätskonstanten am Beispiel Barium-Strontium-Titanat«, Vortrag auf der Konferenz Materials Week 2001, München (2001)
- »Electrical reliability aspects of through the gate implanted MOS structures with thin oxides«, Microelectronics Reliability 41, 987-990 (2001)
- »Experimental and Numerical Study of the CVD of TiO2 using New Titanium Precursors«, Fundamental Gas-Phase and Surface Chemistry of Vapor Deposition II, Washington DC, 160 ff (2001)
- »Fabrication of silicon aperture probes for scanning near-field optical microscopy by focused ion beam nano machining«, Microelectronic Engineering 57-58, 721-728 (2001)
- »High-resolution Constant-height Imaging with Apertured Silicon Cantilever Probes«, Journal of Microscopy, 22ff (2001)
- »Impact of Platinum Contamination on Ferroelectric Memories«, Integrated Ferroelectrics (Proceedings of the 13th International Symposium on Integrated Ferroelectrics ISIF 2001 - Colorado Springs, CO, USA) 37, 75-82 (2001)
- »In-line Failure Analysis on Pruductive Wafers with Dual Beam SEM/FIB«, 4406, 21-30 (2001)
- »Limitations of focused ion beam nanomachining«, Journal of Vacuum Science and Technology 19, 2533-2538 (2001)
- »MOCVD of Titanium Dioxide on the Basis of New Precursors«, ERMSVortrag EMRS 2001, Strasbourg (Frankreich) (2001)
- »Proceedings of the 12th International Conference on Ion Implantation Technology«, IIT 2000, Alpbach, Österreich (2001)
- »Tungsten, Nickel, and Molybdenum Schottky Diodes with Different Edge Termination«, Applied Surface Science 7274, - (2001)
- »Tungsten, Nickel, and Molybdenum Schottky Diodes with Different Edge Termination«, E-MRS 2001 Spring Meeting, Strasbourg (Frankreich) (2001)
2000
1999
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