Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
| Name: | Prof. Dr. rer. nat. Lothar Frey
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| Postal address: | Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
Cauerstr. 6
91058 Erlangen |
| Room: | 1.122 |
| Phone number: | 09131/85-28633 |
| Fax number: | 09131/85-28698 |
| E-mail: | lothar.frey@leb.eei.uni-erlangen.de |
| Office hours: | weekly on tuesday 9:00 - 10:00
1.122
Bitte bei Sekretariat (1.121) anmelden.
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Courses / Lectures
Supervised theses
2013
2012
2011
- Aufbau eines Schülerexperiments zum Thema Solarzellen
- Aufbau von Simulationsmodellen für die thermische Simulation von Reflowlötprozessen
- Charakterisierung der elektrischen und mechanischen Eigenschaften von Plasma-Dust-Cu-Schichten
- Charakterisierung eines PECVD-Prozesses zur Herstellung von Siliciumdioxidschichten
- Charakterisierung eines Siliziumkarbid Sperrschichtfeldeffekttransistors
- Charakterisierung und Validierung eines 4H- SiC Bipolartransistors der Firma TranSiC
- Entwicklung einer automatisierten Sprüheinrichtung
- Entwicklung einer Steuer- und Regelelektronik für ein Batterieladegerät
- Entwicklung einer Steuerung und Regelung für ein Ladegerät für Elektrofahrzeuge
- Entwicklung eines Batterie-Management-Systems für die Lithium-Eisen-Phosphat Batteriezellen eines Hybrid-Fahrzeugs auf einer dSpace-Micro-Autobox mit Matlab/Simulink
- Entwicklung eines Fahrzeug-Management-Systems für Elektrofahrzeuge
- Entwicklung eines Konzeptes zur energieeffizienten Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
- Erstellung eines Simulationsmodells der Fahrgastzelle zur Klimatisierung von Elektrofahrzeugen
- Evaluation neuartiger Sinterpasten für die Aufbau- und Verbindungstechnik in der Leistungselektronik
- Flüssigphasenprozessierte ZnO-Halbleiterschichten aus molekularen Präkursoren
- Gerätesimulation basierend auf einer parametrisierten RTP-Reaktorgeometrie und Validierung ausgewählter Parameter
- Herstellung großflächiger PDMS-Stempel für die substratkonforme Imprintlithographie (SCIL)
- Herstellung und Charakterisierung von Aluminiumoxidschichten mittels Atomlagenabscheidung bei Temperaturen kleiner 150°C
- Implementierung eines Algorithmus zur Bestimmung des State of Charge (SOC) von Li-Ionen Batteriesystemen in automobilen Anwendungen
- Integration von Testmessungen an Halbleiterbauelementen mit einem mobilen Messplatz in eine Lehr-/Übungseinheit
- Kathodenzerstäubung von Gallium-Indium-Zinkoxid variabler Stöchiometrie für den Einsatz in Dünnfilmtransistoren
- Konstruktion und thermische Untersuchung eines Energiespeichers für ein Elektrofahrzeug
- Modellierung eines monolithisch integrierten RC-Snubbers für ein leistungselektronisches System zur Optimierung des EMV-Verhaltens
- Modifikation eines Spreading-Resistance-Messplatzes zur Bestimmung von Widerstandskonzentrationsprofilen über die Point-Contact-Current-Voltage-Methode
- Prozessentwicklung Hafnium-basierter Dielektrika mittels plasma-unterstützter Atomlagenabscheidung
- Simulative Analyse konvektiver Entwärmungsvorgänge in E-Maschinen für Hybrid- und Elektroautos
- Studie zur Monolithischen Integration von Spulen für leistungselektronische Anwendungen
- Systemintegration einer Antriebseinheit in ein Elektrofahrzeug
- Thermische Stabilität dielektrischer Schichten auf Germanium
- Untersuchung der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in multikristallinem Silicium mittels elektrischer Messungen am AFM
- Untersuchung einer adaptiven Regelung für mehrphasige DC/DC-wandler und Implementierung in einem FPGA
- Untersuchung und Optimierung des Schaltverhaltens von Leistungsendstufen für Antriebsumrichter
- Untersuchung zur Erfassung hochdynamischer Schaltvorgänge bei modernen Leistungshalbleitern
- Untersuchungen zur Effizienz der in-situ Dotierung nasschemisch gezüchteter ZnO Nanopartikel anhnad von Feldeffekttransistoren
- Untersuchungen zur Schaltanomalie eines Trench-IGBT
- Vergleich unterschiedlicher Verfahren zur Bestimmung der Impedanz bzw. des Innenwiderstandes von Lithium-Ionen-Batterien zur Bestimmung des Alterungszustandes
2010
2009
2002
1999
1997
1996
1995
1994
1993
1992
Publications
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
- »Different Ion Implanted Edge Terminations for Schottky Diodes on SiC«, 14th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2002), Taos (NM), USA, 139-142 (2003)
- »Electrical Characterization of Zirconium Silicate Films Obtained from Novel MOCVD Precursors«, Microelectronics Reliability 43, 1253-1257 (2003)
- »Electrical Characterization of Zirconium Silicate Films Obtained from Novel MOCVD Precursors«, WoDiM 2002, Grenoble, France, 53-56 (2003)
- »ENCOTION A New Simulation Tool for Energetic Contamination Analysis«, IIT2002, Taos (NM),USA, 217-220 (2003)
- »Influence of Antenna Shape and Resist Patterns on Charging Damage During Ion Implantation«, Ion Implantation Technology, Taos, New Mexico, USA, 291-294 (2003)
- »Investigation of Implantation-Induced Defects in Thin Gate Oxides Using Low Field Tunnel Currents«, 14th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2002), Taos (NM), USA, 3 (2003)
- »Investigation of Lanthanum Contamination from a Lanthanated Tungsten Ion Source«, 14th International Conference on Ion Implantation Technology (IIT2002), Taos (NM), USA, 346-349 (2003)
- »Investigation of Rapid Thermal Annealed p-n Junctions in SiC«, International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2003), Lyon (Frankreich) (2003)
- »Live-Vorführung einer Schaltungsmodifikation",«, Fraunhofer Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISBIISB-Jahrestagung „Ionenstrahlen in der Siliciumtechnologie, Erlangen (2003)
- »Materialbearbeitung mittels fokussierter Ionenstrahlen zur TEM-Probenpräparation und Nanostrukturierung«, Materialography 40, 4 (2003)
- »Materials Processing by Focused Ion Beams for TEM Sample Preparation and Nanostructuring«, Materialography 40, 4 (2003)
- »Modelling of the Influence of the Schottky Barrier Inhomogeneities on SiC Diode Characteristics«, International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2003), Lyon (Frankreich), - (2003)
- »Nanoscale Effects in Focused Ion Beam Processing«, Applied Physics A76, 1017-1023 (2003)
- »Surface Properties and Electrical Characteristics of Rapid Thermal Annealed 4H-SiC«, Materials Science Forum, 433-436 (2003)
- »Trench Sidewall Doping for Lateral Power Devices«, ESSDERC 2003, Estoril, Portugal, 397 (2003)
- »Zirconium silicate films obtained from novel MOCVD precursors«, Journal of Non-Crystalline Solids 322, 147-153 (2003)
2002
2001
2000
1999
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